产品:布鲁克D8达芬奇好色先生下载IOS衍射仪
型号:D8Advance
产地:德国
布鲁克AXS公司全新的D8ADVANCE好色先生下载IOS衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWISTTUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!

高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供保证!
*的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率,而且大幅提高了设备的探测灵敏度。
主要应用:
1、物相定性分析
2、结晶度及非晶相含量分析
3、结构精修及解析
4、物相定量分析
5、点阵参数精确测量
6、无标样定量分析
7、微观应变分析
8、晶粒尺寸分析
9、原位分析
10、残余应力
11、低角度介孔材料测量
12、织构及ODF分析
13、薄膜掠入射
14、薄膜反射率测量
15、小角散射
技术指标:
Theta/theta立式测角仪
2Theta角度范围:-110~168°
角度精度:0.0001度
Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管
探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器
仪器尺寸:1868x1300x1135mm
重量:770kg
TWIN / TWIN 光路
布鲁克获得专属发明的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作,使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用,该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预,即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换,且无需人工干预,是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。

动态光束优化(DBO)
布鲁克独_有的DBO功能为好色先生下载IOS衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能,可为您提供无可_替代的数据质量——尤其是在低2Ɵ角度时。除此之外,LYNXEYE全系列探测器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

LYNXEYE XE-T
LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上只有这一个一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器,适用于所有波长(从Cr到Ag),具有顶点的计数率和更好的角分辨率,是所有好色先生下载IOS衍射和散射应用的理想选择。
LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率,着实出色,是市面上性能更好的荧光过滤器探测器系统。借助它,您可在零强度损失下对由激发的铁荧光进行100%过滤,而且无需金属滤波片,因此数据也不会存在伪影,如残余Kß和吸收边。同样,也无需用到会除去强度的二级单色器。

XRPD方法:
· 鉴别晶相和非晶相,并测定样品纯度
· 对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析
· 微观结构分析(微晶尺寸、微应变、无序…)
· 热处理或加工制造组件产生的大量残余应力
· 织构(择优取向)分析
· 指标化、从头晶体结构测定和晶体结构精修

对分布函数分析
对分布函数(PDF)分析是一种分析技术,它基于Bragg以及漫散射(“总散射”),提供无序材料的结构信息。其中,您可以通过Bragg衍射峰,了解材料的平均晶体结构的信息(即长程有序),通过漫散射,表征其局部结构(即短程有序)。
就分析速度、数据质量以及对非晶、弱晶型、纳米晶或纳米结构材料的分析结果而言,D8 ADVANCE和TOPAS软件替代了市面上性能更好的PDF分析解决方案:
· 相鉴定
· 结构测定和精修
· 纳米粒度和形状

薄膜和涂层
薄膜和涂层分析采用的原理与XRPD相同,不过进一步提供了光束调节和角度操控功能。典型示例包括但不限于相鉴定、晶体质量、残余应力、织构分析、厚度测定以及组分与应变分析。在对薄膜和涂层进行分析时,着重对厚度在nm和µm之间的层状材料进行特性分析(从非晶和多晶涂层到外延生长薄膜)。
D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件可进行以下高质量的薄膜分析:
· 掠入射衍射
· 好色先生下载IOS反射法
· 好色先生TVAPP下载率好色先生下载IOS衍射
· 倒易空间扫描
